聚合物结构评估技术

聚合物材料的层状结构长度不一。 因而，以晶体状聚合物为例，要求对各种长度层状结构的聚合物进行结构评估，比如:从微米级球晶到亚纳米级晶间离析等等。融合各种聚合物结构评估技术，便可分析聚合物的不同层状结构。

使用现金的辐射光设备进行结构分析
聚合物材料的结构与特性随着生产条件、工程工艺和使用环境的不同而出现明显的变化。例如，薄膜拉伸中，施加拉力下的薄膜结构在拉伸过程中和拉伸后截然不同。
能够评估实际工程工艺中原位结构的变化是否理想，但因为这些结构变化在工艺过程中产生，因此需要专门的设备。使用先进的同步加速器辐射设备，强大的 X 射线功能，能够观察薄膜拉伸过程中的结构变化，并能发现PVA膜不断变化，从层状结构变为纤维结构。

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